通过 
规格型号 | Winner100D | |
执行标准 | ISO /DIS-13322-2 | |
光学组件 | 测试范围 | 1-3000μm（根据不同类型，测试范围有所不同） |
光路 | 自主设计远心光路系统 | |
场镜 | 带抗畸变场镜以减轻边缘畸变并加大景深 | |
光学照明 | 工业高亮度LED点式照明器 | |
图像设备 | 最大分辨率 | 1280*1024（其他分辨率选购） |
成像元件 | 1/2英寸CMOS芯片 | |
帧率 | 210/510fps（高帧率可选） | |
曝光时间 | 1us | |
样品窗口 | 自清洗样品窗 | 防止样品窗颗粒黏连、减少人工、延长仪器使用寿命 |
软件工程 | 任务管理机制 | 按照任务进行管理，保证资料管理井井有条 |
视像采集 | 随时进行视频和图片的采集，保留需要的视像资料 | |
比例尺标定 | 通过比例尺标定，与实际尺寸建立关联，从而直接在图像上获得实际尺寸数值 | |
图片批处理模式 | 采用此模式，可边采集边处理，不受内存限制，海量图片获得更准确数据 | |
颗粒自动处理工具 | 自动消除你暗恋、消除杂点、消除边界不完整颗粒，填补空白区域等12项工具 | |
动态处理模式 | 适用于处理动态流动的样品 | |
报告输出 | 可选择报告输出样式和数据种类，可自己定制报告模式 | |
输出参数 | 统计平均径 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用统计平均径 |
单个颗粒数据 | 面积等效直径、周长等效直径、马丁经、周长、投影面积、颗粒长宽等 | |
表面积估算值、体积估算值、X切线、Y切线、切线径、球形度长径比 | ||
粒径分布 | 颗粒粒径的分布的图标 | |
球形度分布 | 颗粒球形度分布的图标 | |
长径比分布 | 颗粒长径比分布的图标 | |
圆度分布 | 颗粒圆度（磨圆度）分布的图标 | |
分布类型 | 按数量分布、按体积分布、按面积分布、按长度分布等 | |
个数统计 | 如测试的样品为颗粒样品，可获得样品中的颗粒数量 | |
自动义表头 | 自定义表头显示的LOGO以及测试人员等报告信息 | |
原始图片/缩略图 | 可以将带有测量数据信息的图片保存，便于发表论文等 | |
18918818796